IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
- Код виробника: SN74BCT8374ADW
- Виробник: Texas Instruments
- Код: 296-33849-5-ND
- Інформація: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
Безкоштовна доставка
Характеристики
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 24-SOIC
- Packaging: Tube
- Part Status: Active
- Logic Type: Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
- Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V
- Number of Bits: 8
- Operating Temperature: 0°C ~ 70°C
- Mounting Type: Surface Mount
- Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
- Supplier Device Package: 24-SOIC
- Base Part Number: 74BCT8374
digikey
Доступно штук: 235
Термін поставки: Доставка протягом 3....6 тижднів
Мімнімальне замовлення: 1 шт.
| Кількість | Ціна, грн з ПДВ |
| 1+ | 804,450 грн |
| 10+ | 726,707 грн |
| 25+ | 692,878 грн |
| 100+ | 601,619 грн |
| 500+ | 523,883 грн |
| 1000+ | 456,285 грн |